通訊5G行業(yè)冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)
三箱設(shè)備區(qū)分為：低溫區(qū)、測(cè)高溫區(qū)、試區(qū)三部分，測(cè)試產(chǎn)品置于測(cè)試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測(cè)試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
進(jìn)口采用觸控式圖控操作界面，操作筒易。
沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，做冷熱沖擊測(cè)試。
系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)衙擎或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，Z大時(shí)間可達(dá)999H，Z大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
冷卻采復(fù)疊式二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)
通訊5G行業(yè)冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)
沖擊溫度范圍可選擇：A:150℃～-40℃;B:150℃～-55℃;C:150℃～-65℃;
儲(chǔ)存箱溫度范圍：高溫箱：RT～200℃ （空載）
                低溫箱：RT～-75℃ （空載）
溫度波動(dòng)度：±0.5℃
溫度誤差：±2℃
升溫速率：從常溫～200℃≤30min(程平均)
降溫速率：從常溫～-75℃≤40min(程平均)
尺寸大?。簶?biāo)準(zhǔn)尺寸有：50L(350×350×400)mm;80L(500×400×400)mm;150L(600×500×500)mm;250L(700×600×600)mm