基本環(huán)境調(diào)溫調(diào)濕試驗箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美標(biāo)準(zhǔn)；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.2部分:1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗
EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
基本環(huán)境調(diào)溫調(diào)濕試驗箱箱體結(jié)構(gòu)
1、內(nèi)膽為進口（SUS304）鏡面不銹鋼板；
2、保溫材質(zhì):高密度玻璃纖維棉.保溫厚度為80mm；
3、采用反作用門把手，操作更容易；
4、機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪；
5、外膽均采用（t=1.2mm）A3鋼板數(shù)控機床加工成型，外殼表面進行噴塑處理，更顯光潔、美觀；
6、攪拌系統(tǒng):采用長軸風(fēng)扇電機，耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪,以達強度對流垂直擴散循環(huán)；
7、門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉；
8、觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內(nèi)側(cè)膠合片式導(dǎo)電膜（可清楚觀察試驗過程）；
9、測試孔（機器左側(cè)）?50mm個（進口原裝）可外接測試電源線或信號線使用（孔徑或孔數(shù)須增加需指示）。
基本環(huán)境調(diào)溫調(diào)濕試驗箱規(guī)格參數(shù)：(除了以下標(biāo)準(zhǔn)尺寸愛佩還可以為大家定制非標(biāo)尺寸）
AP-HX-80試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm:400*400*500
AP-HX-150試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 500*500*600
AP-HX-225試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 600*500*750
AP-HX-408試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 600*800*850
AP-HX-800試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 1000*800*1000
AP-HX-1000試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm:1000*1000*1000
2、恒濕濕度范圍：20%～98%R.H；
3、恒溫溫度范圍可選：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃.
4、解析精度：溫度：0.01℃；濕度：0.1%R.H
5、溫度波動度：±0.5℃；
6、溫度均勻度：±2℃；
7、升溫速率：約3℃/min（從低溫升到高溫、非線性空載）；
8、降溫速率：0.75℃-1℃/min（從高溫降到低溫、非線性空載）；
基本環(huán)境調(diào)溫調(diào)濕試驗箱可以單獨做低溫，可以單獨做高低溫交變、恒定、循環(huán)試驗各種各類工業(yè)產(chǎn)品。適用產(chǎn)品包括：儀器儀表、電工、存儲類器件、電源芯片、電線產(chǎn)品、總線器件、接口驅(qū)動器件、機、體育器材電子五金塑膠產(chǎn)品、、產(chǎn)各種規(guī)格通訊線、排線電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航空航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件。